学术报告芯片测试技术及其产学研合作-内蒙古工业大学

学术报告芯片测试技术及其产学研合作

时间：2016年06月21日信息来源：内蒙古工业大学点击：次【加入收藏】【字体：大中小】

题目：芯片测试技术及其产学研合作

报告人：Jeff Schulze

报告时间：2016年6月17日下午4点

报告地点：工程技术楼A座216

报告人简介：

Jeff Schulze，系统应用工程师，毕业于California State Polytechnic University. 从事半导体芯片测试20余年，目前就职于Advantest公司，曾经就职于Broadcast Microwave Services, ClariPhY Communications, and Maxlinear Inc. 擅长于机器人电气控制系统的系统可靠性测试、数字芯片测试，混频和射频信号的测试。

欢迎感兴趣的全校师生参加。

机械学院

2016年6月17日

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(作者：佚名编辑：内蒙古工业大学)

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